簡(jiǎn)單了解下高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀的產(chǎn)品特點(diǎn)

HCYD高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀采用FPGA數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測(cè)試頻率，配合B&K的聲學(xué)與振動(dòng)公司B&K生產(chǎn)的激振器作為振源，基于我司在弱信號(hào)采集技術(shù)的優(yōu)勢(shì),設(shè)計(jì)的一款用于高溫環(huán)境下的壓電系數(shù)測(cè)試儀器,相對(duì)傳統(tǒng)的d33測(cè)量?jī)x測(cè)量精度更高,測(cè)量量程更寬,可靠性更高,操作更簡(jiǎn)單。該儀器可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料(壓電陶瓷、高分子)、鐵電材料以及相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

采用進(jìn)口B&K激振器,更精準(zhǔn)的振動(dòng)頻率;

采用ADA4870 驅(qū)動(dòng)技術(shù)與B&K激振器匹配，閉環(huán)實(shí)現(xiàn)更穩(wěn)定的加載力;

采用主流FPGA設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)30Hz-140Hz寬范圍測(cè)量:

采用高阻放電荷放大器,減小測(cè)量過(guò)程中的損耗。實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)量;

采用直流線性加熱,減少渦流加熱噪聲:

采用真空電極避免絕緣支架帶來(lái)的熱釋電電荷，引入測(cè)量系統(tǒng)。

產(chǎn)品參數(shù)：