
簡要描述:華測儀器HCCS-4探針臺(tái)測試儀以其結(jié)構(gòu)緊湊、操作便捷、經(jīng)濟(jì)實(shí)用的特點(diǎn),普遍應(yīng)用于科研實(shí)驗(yàn)、高校教學(xué)及小批量生產(chǎn)測試等領(lǐng)域。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
HCCS-4探針臺(tái)測試儀
價(jià)格僅供參考,如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例,歡迎致電我司技術(shù)工程師
HCCS-4探針臺(tái)測試儀由華測儀器生產(chǎn),是為材料電學(xué)表征與器件測試研發(fā)的一款輕量化手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng),該設(shè)備作為一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu),主要用于協(xié)助測試人員實(shí)現(xiàn)對(duì)微小器件或材料樣品的電學(xué)連接,從而完成電性能參數(shù)的測量。
基本工作原理:測試人員將待測器件置于探針臺(tái)載物臺(tái)(Chuck)上,在顯微鏡觀測下通過X-Y方向移動(dòng)樣品臺(tái),定位待測區(qū)域。隨后,通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z三軸調(diào)節(jié)旋鈕,控制前部探針(直流或射頻探針)扎觸至被測電極點(diǎn),使器件信號(hào)線通過探針與外部測試機(jī)(如源表、LCR表、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀等)形成導(dǎo)通回路,進(jìn)而獲取所需的電性能參數(shù)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
多場景測試兼容:滿足I-V/C-V特性測試、PIV測試、光電響應(yīng)測試等多種應(yīng)用需求
大尺寸樣品支持:可用于6英寸及以下規(guī)格樣品的測試
準(zhǔn)度傳動(dòng):采用同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu),確保探針移動(dòng)平穩(wěn)線性
環(huán)境適應(yīng)性:結(jié)構(gòu)輕巧,可放置于手套箱內(nèi)使用,滿足多種氣氛環(huán)境測試需求
操作便捷性:人體工學(xué)設(shè)計(jì),旋鈕操作順手,學(xué)習(xí)成本低
應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體器件測試:二極管、晶體管等基礎(chǔ)器件電學(xué)表征
材料科學(xué)研究:二維材料、鈣鈦礦、半導(dǎo)體等新材料電性能研究
光電測試:光電探測器、太陽能電池的光電響應(yīng)特性測量
失效分析:電子元器件故障定位與原因分析
教學(xué)實(shí)驗(yàn):高校微電子、物理、材料試驗(yàn)教學(xué)

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