
簡要描述:華測儀器HCWP高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運(yùn)用平行板電極法設(shè)計(jì)原理測量,重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙障蔽高頻測試線纜,提高測試參數(shù)的準(zhǔn)確度,同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
HCWP高溫介電溫譜測試系統(tǒng)
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HCWP高溫介電溫譜測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn),搭配Huacepro軟件,具備自定義測試功能,可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置,符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。在過壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測試過程正常進(jìn)行;當(dāng)遇到電腦異?;蛩矔r(shí)斷電時(shí)可將資料保存于操作器中,不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù),設(shè)備重新啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
產(chǎn)品參數(shù)
溫度范圍:RT~1450°C
控溫精度:±1℃
升溫速率:0~100℃/min(可設(shè)定)
測試頻率:10Hz~120MHz
加熱方式:近紅外加熱
降溫方式:水冷
輸入電壓:220V
樣品尺寸:D≤25mm,H≤4mm
測試功能:介電溫譜、頻譜
產(chǎn)品優(yōu)勢
1.高速加熱與降溫方式
紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體降溫裝置,可實(shí)現(xiàn)快速降溫
2.溫度控制
近紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度執(zhí)行器的組合使用,可以準(zhǔn)確控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)
3.不同環(huán)境下的加熱與降溫
加熱/降溫可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(惰性氣體靜態(tài)或流動(dòng)),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/降溫室

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